​
'n Bayes benadering vir versnelde lewenstoetsing (ALT) word ondersoek. Daar word aanvaar dat die mislukkingstye by verskillende stresvlakke, 'n Weibul-lverdeling volg. In versnelde lewenstoetse word komponente aan 'n ernstiger omgewing bloot gestel, met die gevolg dat die komponente vinniger misluk. Die foutinligting word deur 'n versnelde model getransformeer om die betroubaarheid onder normale bedryfstoestande te voorspel. 'n Funksionele verwantskap, bekend as 'n tydtransformasiefunksie (TTF), word tussen die parameters en die versnelde stressors aanvaar. In besonder, word 'n Bayes benadering tot ALT met twee spanningsveranderlikes beskou, waar die algemene Eyring-model gebruik word. Hierdie model maak voorsiening vir die gebruik van een termiese stressor en een nie-termiese stressor.